近場探頭介紹 
    電磁場是由電場(E場)和磁場(H場)結(jié)合形成的。工程師可使用各種探頭來檢測每類場中的發(fā)射。  
    近場探頭磁場發(fā)射源通常來自芯片組引腳、印刷電路板導(dǎo)線、電源線或信號線，或沒有良好接地的金屬蓋。近場探頭的感應(yīng)元件是一個(gè)與發(fā)射導(dǎo)線或電線電感耦合的簡易線圈。近場探頭在它的回路與載流電線對齊時(shí)，提供頻譜分析儀的zui大輸出電壓。在診斷EMI的故障時(shí)，工程師需要在被測器件的表面旋轉(zhuǎn)和移動(dòng)探頭，以確定探頭在功率讀數(shù)達(dá)到zui大值時(shí)的位置，同時(shí)避免遺漏重要的發(fā)射源。 
    近場探頭電場主要來源于未使用負(fù)載端接的電纜和電線，以及通向高阻抗邏輯電路的印刷電路板導(dǎo)線(可能是邏輯集成電路的高阻抗輸入或三相輸出)。zui簡單的近場探頭實(shí)質(zhì)上就是一個(gè)小型天線。近場探頭能夠很方便地探測空中信號，例如蜂窩下行鏈路信號。這些大功率空中信號可能需要增加衰減，以防頻譜分析儀過載。不過，增加衰減將會(huì)影響頻譜分析儀的靈敏度。 
    選擇近場探頭類型在遠(yuǎn)場測試中，被測器件和天線之間的距離決定了場強(qiáng)的大小。當(dāng)近場探頭靠近發(fā)射源時(shí)，電流、電壓、形狀和材料等特性將成為決定場強(qiáng)的主要因素。如果輻射是來自高電壓、弱電流的電路或元器件，那么電場在EMI近場中將起到主要作用。如果部分被測器件中電流很強(qiáng)而電壓較低，那么磁場將起到主要作用。在近場測試中，當(dāng)近場探頭逐漸遠(yuǎn)離被測器件時(shí)，磁場衰落的速度比電場更快。因此，近場探頭更多地用于在近場測試中定位發(fā)射目標(biāo)。